THz-TDS太赫茲時域光譜儀背景知識基于超快激光的THz脈沖產生與探測技術發展起來的太赫茲時域光譜儀（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技術。

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更新時間：2023-05-19
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THz-TDS太赫茲時域光譜儀背景知識

基于超快激光的THz脈沖產生與探測技術發展起來的太赫茲時域光譜儀（Terahertz time domain spectroscopy, THz-TDS）技術，是本世紀80年代由AT&T貝爾實驗室（AT&T Bell Laboratories）和IBM公司的T.J.Waston研究中心（IBM Thomas J. Watson Research Center）提出的。BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS技術屬于電磁輻射位相相干探測技術，是通過對THz脈沖不同時刻的電場強度進行位相相關的取樣測量，獲得THz脈沖電場的時域波形。再對THz時域波形進行傅立葉變換，獲得THz脈沖電場頻譜和位相信息。因此，太赫茲時域光譜儀THz-TDS可以同時直接探測被研究對象擾動的THz波電場振幅和相位雙重信息。

Batop公司簡介

BATOP成立于2003年，是一家曾隸屬于德國耶拿大學的私人創新型公司。公司配備了來自于實驗室領域的專業化技術開發和生產設計團隊，使得其公司產品具有很高的品質和具有競爭力的價格。在過去幾年里，BATOP一直致力于太赫茲光電導天線PCA和太赫茲時域光譜儀系統THz-TDS的研發。BATOP不僅提供單帶隙光電導天線，還包括整合了微透鏡的高能大狹縫交叉光電導天線陣列。BATOP自主研發的太赫茲時域光譜儀THz-TDS性能穩定，各項參數優良，功能多樣：可實現快速掃描、配合外置的光纖耦合天線實現角度掃描、成像等功能。 BATOP借助強大的研發能力來不斷提高自己的產品。

BATOP太赫茲時域光譜儀THz-TDS1008(圖1)

太赫茲時域光譜儀TDS10XX產品特點：

——內置樣品倉，可充氮氣進行透反射測量

——規格多樣的外置光纖耦合光電導天線可選

——外置角度掃描裝置可選

——外置成像模塊可選

——T3DS軟件支持

TDS10XX太赫茲時域光譜儀各型號參數規格：

	THz-TDS1008	THz-TDS1010	THz-TDS1015
頻譜范圍	0.05-4THz	0.05-2.5THz	0.05-1.2THz
動態范圍	75dB	60dB	50dB
掃描范圍/分辨率	500ps / 2GHz	500ps / 2GHz	500ps / 2GHz
THz光斑尺寸	22mm(準直)/1-3mm(聚焦)	22mm(準直)/1-3mm(聚焦)	22mm(準直)/1-3mm(聚焦)
儀器尺寸（cm³）	90×60×30	60×60×30	60×60×30